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工程中心携最新智能射线检测技术参加国际智能检测与评估大会
来源:工业CT无损检测教育部工程研究中心 时间:2025-10-31 17:08:00 浏览 (72次)

2025年10月28日至30日,2025国际智能检测与评估大会(第6届iNDT&E)在上海隆重召开,来自于海外、国内各地各行业的150余名专家代表参加了大会。本次大会的主题是“全面推进智能检测与评估技术在智能产业/专业中高效增值,体验智能检测与评估技术的实际成效”。

工程中心副主任卢艳平副研究员受邀参加大会并向大会作了《工业CT智能检测技术及应用》的专题报告,向大会分享了团队在工业CT图像智能重建、智能处理、智能分割、智能识别等核心技术以及工业CT智能检测装备研制与应用等方面的最新进展。

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