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大湾区NDT论坛:工程中心携基于CL专利技术的3DAXI产品赴会
来源:工业CT无损检测教育部工程研究中心 时间:2025-10-28 17:05:00 浏览 (79次)

2025年10月24日至27日,第三届粤港澳大湾区无损检测论坛在广东省东莞市隆重召开。本届论坛以“智能无损·融合创新·赋能产业”为主题,全面聚焦无损检测技术在国家重大战略与区域产业发展中的关键作用。大会吸引了来自全国130多家高校、科研院所及企事业单位的400余名专家学者和行业代表齐聚东莞。

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大会上,工程中心副主任卢艳平副研究员受邀作《微纳分辨计算机分层成像(CL)技术》的专题报告,向大会报告了国内外计算机分层成像(CL)技术现状、团队专利技术“直线/正交直线CL技术”、团队CL检测装备与核心部件及其检测应用的最新进展。

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产业化公司作为大会赞助商参加了同期举办的检测仪器展览会,向大会代表展示了团队自主可控的X射线工业CT核心部件、微纳系列工业CT/CL检测仪器、车载机动式系列工业CT检测装备、智能化系列工业CT检测装备、双源双探系列工业CT检测装备、高能加速器系列工业CT检测装备等全系列的工业CT检测解决方案。

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面向大湾区先进半导体封装产业需求,团队携基于直线/正交直线CL技术的最新3DAXI产品赴会,为我国先进半导体产业健康发展赋能。

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